프로브 F 프로브 N 도장 두께 게이지
부품 번호: CTME-2100
게이지는 정밀 통합 프로브를 사용하고 전자기 유도의 원리와 기판의 속성을 자동으로 감지하는 와전류 효과를 사용합니다.
작동 원리:
게이지는 전자기 유도 및 와전류 효과의 원리를 채택합니다. F 프로브와 N 프로브가 있습니다.
F 프로브는 자기 유도 원리에 따라 작동하며 철/강철 기판의 크롬/구리/아연/바니시/고무와 같은 비자성 코팅의 두께를 감지하는 데 사용해야 합니다.
N 프로브는 와전류 원리에 따라 작동하며 알루미늄/구리/황동 기판의 페인트/아노다이징/세라믹과 같은 절연 코팅의 두께를 감지하는 데 사용해야 합니다.
기술 사양
프로브 F | 프로브 N | |
원칙 | 자기 유도 | 와전류 |
범위 | 0~1300um
0~5120만 |
0~1300um
0~5120만 |
정확성 | ±(3%+2um)
±(3%+0.08mil) |
±(3%+2um)
±(3%+0.08mil) |
해결 | 0.1um/0.01mil | 0.1um/0.01mil |
구경 측정 | 포인트: 0/50/100/250/500/1000um | |
단위 | 음, 밀 | |
볼록한 최소 곡률 반경: 1.5mm | ||
오목한 최소 곡률 반경: 25mm | ||
최소 측정 영역: 직경 6mm | ||
기판의 최소 두께 | 0.5mm(0.02") | 0.3mm(0.012") |
힘 | 9V 배터리 1개 | |
운영환경 | 온도:0~40℃(32~104℉) 습도:20%~90%RH | |
크기 | 130mm x 62mm x 32mm
(4.88인치 x 2.44인치 x 1.26인치) |
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무게 | 100g(3.53oz) |