1MHz 11-Bin Komparator Kapazitätsmesser
Merkmale:
- 4,3-Zoll-TFT-LCD-Display
- Wählbare chinesische und englische Bedienoberfläche
- max. Testfrequenz: 1MHz
- Höchste Testgeschwindigkeit: 2,3 ms/Zeit
- Grundlegende Testgenauigkeit: ±0,07%
- Verlustfaktor: ±0,0005
- V, I-Testsignalpegelüberwachungsfunktion
- Niedrige Impedanzmessung, Signalpegelkompensationsfunktion
- Eingebauter 11-Bin-Komparator
- Interner Dateispeicher und externer U-Disk-Dateispeicher
- Testdaten können direkt auf der U-Disk gespeichert werden
- Screenshot kann auf U-Disk gespeichert werden
- Kompatibel mit SCPI-Befehlen
- Schnittstellen RS232C, USB CDC, LAN, HANDLER, GPIB
- Manipulatorschnittstelle und Scannerschnittstelle
- Kontaktinspektionsfunktion
- Signalquelle synchronisieren
- Offset-Funktion in 1MHz Testfrequenz (±1, ±2%)
| Modus | TH2638 | TH2638A | |
| Testparameter | Cp-D, Cp-Q, Cp-Rp, Cp-G, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs | ||
| Testsignal | |||
| Frequenz | Zulässige Frequenz | 100Hz,120Hz, 1kHz,10kHz,100kHz,1MHz, 1MHz±1%,
1MHz±2% |
100 Hz, 120 Hz, 1 kHz, 10 kHz, 100 kHz
|
| Genauigkeit | ±0,02% | ||
| Stufe | Bereich | 0,1 V-1 V | |
| Auflösung | 0,01 V | ||
| Genauigkeit | ±5% | ||
| Ausgabemodus | Kontinuierlich oder synchron | ||
| Signalquellenverzögerung | Bereich | 0-1s | |
| Auflösung | 0,1 ms | ||
| Kompensation des Signalpegels | 100/120Hz | 220 μF, 470 μF, 1 mF-Bereich | |
| 1kHz | Bereich 22 μF, 47 μF, 100 μF | ||
| Ausgangsimpedanz | 100 Hertz
120Hz |
SLC AUS (Bereich ≥ 220 μF) 1,5 Ω
SLC EIN (Bereich ≥ 220 μF) 0,3 Ω 2,2 μF – 100 μF Bereich 0,3 Ω 10 nF – 1 μF Bereich 10 Ω |
|
| 1kHz
|
SLC AUS (Bereich ≥ 22 μF) 1,5 Ω
SLC EIN (Bereich ≥ 22 μF) 0,3 Ω 220 nF – 10 μF Bereich 0,3 Ω 100 pF – 100 nF Bereich 10 Ω |
||
| 10kHz
100kHz |
10 Ω | ||
| 1MHz
1MHz±1% 1MHz±2% |
10 Ω | ——————- | |
| Testgeschwindigkeit | 5-Bin-Testgeschwindigkeit: 1, 2, 4, 6, 8 | ||
| max. Testgeschwindigkeit | 100/120Hz | 11ms | |
| 1kHz | 3ms | ||
| 10k/100kHz | 2,3 ms | ||
| 1MHz | 2,3 ms | ——————————- | |
| Testbereichsmodus | Selbsthaltung | ||
| Frequenzbereich des Testsignals | 100Hz
120Hz |
10 nF, 22 nF, 47 nF, 100 nF
220 nF, 470 nF, 1 μF, 2,2 μF 4,7 μF, 10 μF, 22 μF, 47 μF 100 μF, 220 μF, 470 μF, 1 mF |
|
| 1 kHz | 100 pF, 220 pF, 470 pF, 1 nF
2,2 nF, 4,7 nF, 10 nF, 22 nF 47 nF, 100 nF, 220 nF, 470 nF 1 μF, 2,2 μF, 4,7 μF, 10 μF 22 μF, 47 μF, 100 μF |
||
| 10 kHz | 100 pF, 220 pF, 470 pF, 1 nF
2,2 nF, 4,7 nF, 10 nF, 22 nF 47 nF, 100 nF, 220 nF, 470 nF 1 μF, 2,2 μF, 4,7 μF, 10 μF |
||
| 100 kHz | 10 pF, 22 pF, 47 pF, 100 pF,
220 pF, 470 pF, 1 nF 2,2 nF, 4,7 nF, 10 nF, 22 nF 47 nF, 100 nF |
||
| 1MHz
|
1 pF, 2,2 pF, 4,7 pF, 10 pF, 22 pF, 47 pF, 100 pF, 220 pF,
470 pF, 1 nF |
————————- | |
| Durchschnittliche Zeiten | 1 – 256 | ||
| Triggermodus | Intern, Manuell, Extern, Bus | Intern, Manuell, Extern, Bus (außer GPIB) | |
| Auslöseverzögerungszeit | Bereich | 0 – 1s | |
| Auflösung | 0,1 ms | ||
| Messanzeigebereich | |||
| Parameter | Cs, Cp | ±1,000000 aF bis 999,9999 EF | |
| D | ±0,000001 bis 9,999999 | ||
| Q | ±0,01 bis 99999,99 | ||
| RS, Rp | ±1,000000 aΩ bis 999,9999 EΩ | ||
| g | ±1,000000 AS bis 999,9999 ES | ||
| Δ% | ±0,0001 % bis 999,9999 % | ||
| Anzeigemodus | Fließ-/Festkommaanzeige, ΔABS, Δ% | ||
| Listen-Sweep | 10 Listen-Sweep, Sweep-Element: Frequenz, Spannung | ||
| Komparatorfunktion | 11 Fächer: BIN1~BIN9, OUT_OF_BIN, AUX_BIN | ||
| Schnittstelle | RS232C, LAN, USB-CDC, HANDLER, GPIB, Scanner | RS232C, LAN, USB-CDC, HANDLER | |
| Interne Speicher | 40 Einstellungsdateien | ||
| Externer USB-Speicher | GIF-Bild
40 Einstellungsdateien Testdaten und Screenshots können direkt im USB-Speicher gespeichert werden |
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| Allgemeine Spezifikation | |||
| Temperatur, Feuchtigkeit, Höhe (Betriebsumgebung) | nicht kondensierend | ||
| Stromversorgung | Stromspannung | 90 VAC – 264 VAC | |
| Frequenz | 47 Hz – 63 Hz | ||
| Energie | Max.: 150 VA | ||
| Temperatur, Luftfeuchtigkeit, Höhe (Lagerumgebung) | nicht kondensierend | ||
