Software de adquisición de datos del probador de medidores LCR de 33 puntos
Número de parte: LCRM-2816B
Especificaciones:
Parámetros | Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,GB,RX,Z-rad,Z-grados |
Parámetros del monitor | Z, D, Q, r, d, R, X, G, B, Y, Vac, Iac, , % |
Exactitud | 0.1% |
Frecuencia | 50Hz-200kHz |
Rango de visualización | L: 0.00001h - 999999h C: 0.00001PF - 999999F R, Z: 0.00001 - 99.9999mq: 0.00001 - 99999 (DEG): -90.0000- 90.0000 (RAD): -3.14159 3.14159 %: -999.999% - 999.999% D: 0.00001 -9.99999 |
Resistencia de la fuente | 30 50 100 |
Intervalo | 9 rangos, Automático, Manual, Nominal |
Pantalla máx. | 6 dígitos, parámetro principal: 999999; subparámetro: 999999; parámetro del monitor: 999999 |
Nivel de señal | 0,01 V – 2,00 V (paso de 10 mV) |
Velocidad | 30 t/s, 10 t/s, 6 t/s, 3 t/s 1 – 256 veces el promedio está disponible |
comparador | Clasificación de 14 contenedores, GD de 10 contenedores, NG de 1 contenedor, AUX de 1 contenedor, parámetro de principio de 2 contenedores NG Función de conteo: Max – 999999 |
Prueba de lista | Prueba de escaneo de frecuencia y nivel de 10 grupos |
Ajustamiento | Restablecimiento de frecuencia abierta/corta, frecuencia de 3 puntos y corrección de carga |
archivos | 10 archivos de grupo para guardar la configuración de los usuarios, 1 grupo para guardar datos del sistema en tiempo real |
Interfaz | RS232C, interfaz ExHandler, con interfaz de disco USB estándar (datos del artículo 10000) |
Otro | Selección automática LCR, bloqueo de teclado, conjunto de instrucciones SCPI, pantalla TFT-LCD de color verdadero |
Fuente de alimentación | Voltaje: 90V AC – 250V AC Frecuencia: 50Hz – 60Hz Potencia: Max 20VA |
Dimensión Peso | 264 mm (ancho) x 107 mm (alto) x 350 mm (profundidad); 4kg |
Accesorios | ATL501: Cable de prueba ATL607: Dispositivo de prueba ATL600: Segmento de cortocircuito ATL801: Cable de comunicación 232 |
Accesorios Opcionales | ATL608 Pinza de parche SMD ATL508: Pinza de prueba de parche SMD ATS2816B: Software de adquisición de datos ATL508A: Pinza de prueba de parche SMD |